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HerstellerSTMICROELECTRONICS
HerstellerteilenummerTS862IDT
Bestellnummer2929895RL
Technisches Datenblatt
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Menge | Preis (ohne MwSt.) |
---|---|
100+ | 0,777 € |
500+ | 0,701 € |
1000+ | 0,645 € |
Preiseinheit:Stück (Gurtabschnitt)
Minimum: 100
Mehrere: 5
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Produktspezifikationen
HerstellerSTMICROELECTRONICS
HerstellerteilenummerTS862IDT
Bestellnummer2929895RL
Technisches Datenblatt
KomparatortypBiCMOS
Anzahl der Kanäle2Kanäle
Ansprechzeit / Ausbreitungsverzögerung500ns
Versorgungsspannung2.7V bis 10V
IC-Gehäuse / BauformSOIC
Anzahl der Pins8Pin(s)
KomparatorausgangPush-Pull
StromversorgungEinfache Versorgung
IC-MontageOberflächenmontage
Betriebstemperatur, min.-40°C
Betriebstemperatur, max.85°C
Produktpalette-
Qualifikation-
MSLMSL 1 - unbegrenzt
SVHCNo SVHC (21-Jan-2025)
Qualifizierungsstandard der Automobilindustrie-
Bauform - KomparatorSOIC
IC-AusgangGegentakt
Anzahl der Komparatoren2 Komparatoren
Ansprechzeit500ns
Technische Spezifikationen
Komparatortyp
BiCMOS
Ansprechzeit / Ausbreitungsverzögerung
500ns
IC-Gehäuse / Bauform
SOIC
Komparatorausgang
Push-Pull
IC-Montage
Oberflächenmontage
Betriebstemperatur, max.
85°C
Qualifikation
-
SVHC
No SVHC (21-Jan-2025)
Bauform - Komparator
SOIC
Anzahl der Komparatoren
2 Komparatoren
Anzahl der Kanäle
2Kanäle
Versorgungsspannung
2.7V bis 10V
Anzahl der Pins
8Pin(s)
Stromversorgung
Einfache Versorgung
Betriebstemperatur, min.
-40°C
Produktpalette
-
MSL
MSL 1 - unbegrenzt
Qualifizierungsstandard der Automobilindustrie
-
IC-Ausgang
Gegentakt
Ansprechzeit
500ns
Technische Dokumente (2)
Gesetzgebung und Umweltschutz
Herkunftsland:
Land, in dem der letzte Fertigungsprozeß ausgeführt wurde.Herkunftsland:Morocco
Land, in dem der letzte Fertigungsprozeß ausgeführt wurde.
Land, in dem der letzte Fertigungsprozeß ausgeführt wurde.Herkunftsland:Morocco
Land, in dem der letzte Fertigungsprozeß ausgeführt wurde.
Tarif-Nr.:85423990
US ECCN:EAR99
EU ECCN:NLR
RoHS-konform:Ja
RoHS
RoHS-Phthalate-konform:Ja
RoHS
SVHC:No SVHC (21-Jan-2025)
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Produkt-Konformitätszertifikat
Gewicht (kg):.0001
Produktnachverfolgung