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CMP1206-FX-1003ELF
Chipwiderstand, Oberflächenmontage, 100 kohm, ± 1%, 750 mW, 1206 [Metrisch 3216]
Abbildung ggf. ähnlich. Alle Angaben ohne Gewähr. Ausschlaggebend sind die Produktinformationen des Herstellers.
HerstellerBOURNS
HerstellerteilenummerCMP1206-FX-1003ELF
Bestellnummer3769510RL
ProduktpaletteCMP Series
Technisches Datenblatt
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| Menge | Preis (ohne MwSt.) |
|---|---|
| 500+ | 0,0534 € |
| 1000+ | 0,0477 € |
| 2500+ | 0,0425 € |
| 5000+ | 0,0372 € |
Preiseinheit:Stück (Gurtabschnitt)
Minimum: 500
Mehrere: 10
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Produktspezifikationen
HerstellerBOURNS
HerstellerteilenummerCMP1206-FX-1003ELF
Bestellnummer3769510RL
ProduktpaletteCMP Series
Technisches Datenblatt
Widerstand100kohm
Widerstandstoleranz± 1%
Nennleistung750mW
Bauform/Gehäuse des Widerstands1206 [Metrisch 3216]
WiderstandstechnologieDickschichtwiderstand
WiderstandstypÜberspannungsschutz
ProduktpaletteCMP Series
Temperaturkoeffizient± 100ppm/°C
Nennspannung250V
Produktlänge3.2mm
Produktbreite1.6mm
Betriebstemperatur, min.-55°C
Betriebstemperatur, max.155°C
Qualifikation-
SVHCNo SVHC (25-Jun-2025)
Technische Spezifikationen
Widerstand
100kohm
Nennleistung
750mW
Widerstandstechnologie
Dickschichtwiderstand
Produktpalette
CMP Series
Nennspannung
250V
Produktbreite
1.6mm
Betriebstemperatur, max.
155°C
SVHC
No SVHC (25-Jun-2025)
Widerstandstoleranz
± 1%
Bauform/Gehäuse des Widerstands
1206 [Metrisch 3216]
Widerstandstyp
Überspannungsschutz
Temperaturkoeffizient
± 100ppm/°C
Produktlänge
3.2mm
Betriebstemperatur, min.
-55°C
Qualifikation
-
Technische Dokumente (1)
Gesetzgebung und Umweltschutz
Herkunftsland:
Land, in dem der letzte Fertigungsprozeß ausgeführt wurde.Herkunftsland:Taiwan
Land, in dem der letzte Fertigungsprozeß ausgeführt wurde.
Land, in dem der letzte Fertigungsprozeß ausgeführt wurde.Herkunftsland:Taiwan
Land, in dem der letzte Fertigungsprozeß ausgeführt wurde.
Tarif-Nr.:85332900
US ECCN:EAR99
EU ECCN:NLR
RoHS-konform:Ja
RoHS
RoHS-Phthalate-konform:Ja
RoHS
SVHC:No SVHC (25-Jun-2025)
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Produkt-Konformitätszertifikat
Gewicht (kg):.01006
Produktnachverfolgung