ADG774ABCPZ-R2

ADG774A ist ein monolithischer CMOS-Baustein, der vier 2:1-Multiplexer/Demultiplexer mit hochohmigen Ausgängen umfasst. Das CMOS-Verfahren sorgt für eine niedrige Verlustleistung und bietet dennoch eine hohe Schaltgeschwindigkeit und einen niedrigen Einschaltwiderstand. Die Änderung des Einschaltwiderstands über den Eingangssignalbereich beträgt üblicherweise weniger als 0.5 Ohm. Dank einer Bandbreite von typ. 400MHz in Kombination mit einer geringen Verzerrung (typ. 0.3%) ist dieser Baustein zum Schalten von High-Speed-Datensignalen geeignet. Das Profil des Einschaltwiderstands ist über den gesamten analogen Eingangsbereich sehr flach, wodurch eine hervorragende Linearität und eine geringe Verzerrung erreicht werden. Die CMOS-Konstruktion gewährleistet äußerst geringe Leistungsverluste.

• -3dB-Bandbreite: typ. 400MHz (RL = 50 Ohm, VDD = 5V ± 10%)
• Einschaltwiderstand: typ. 2.2 Ohm (VD = 0V bis 1V, IS = -10mA)
• Flaches Profil des Einschaltwiderstands: typ. 0.3 Ohm (VD = 0V bis 1V, IS = -10mA)
• Verzerrung: typ. 0.3% (RL = 100 Ohm, VDD = 5V ± 10%)
• Niedriger Ruhestrom (Versorgung): typ. 1nA
• TTL/CMOS-kompatibel
• Hohe Schaltgeschwindigkeit: tON = typ. 6ns, tOFF = typ. 3ns
• Ladungsinjektion: typ. 6pC (CL = 1nF, VD = 0V bis 1V, IS = -10mA)
• Betriebstemperatur: -40°C bis +85°C
• 16-poliges LFCSP-Gehäuse

Hinweise

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