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MLZ2012A1R0WTD25
Multilayer-Induktivität, AEC-Q200, geschirmt, 1 µH, 0.13 ohm, 900 mA, 0805 [Metrisch 2012]
Abbildung ggf. ähnlich. Alle Angaben ohne Gewähr. Ausschlaggebend sind die Produktinformationen des Herstellers.
HerstellerTDK
HerstellerteilenummerMLZ2012A1R0WTD25
Bestellnummer3386730
ProduktpaletteMLZ Series
Technisches Datenblatt
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| Menge | Preis (ohne MwSt.) |
|---|---|
| 10+ | 0,068 € |
| 100+ | 0,0584 € |
| 500+ | 0,0536 € |
| 1000+ | 0,0507 € |
| 2000+ | 0,0479 € |
| 4000+ | 0,045 € |
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Produktspezifikationen
HerstellerTDK
HerstellerteilenummerMLZ2012A1R0WTD25
Bestellnummer3386730
ProduktpaletteMLZ Series
Technisches Datenblatt
Induktivität1µH
DC-Widerstand, max.0.13ohm
Eigenresonanzfrequenz-
DC-Nennstrom900mA
Bauform/Gehäuse der Induktivität0805 [Metrisch 2012]
Bauform - Induktivität0805 [Metrisch 2012]
ProduktpaletteMLZ Series
Induktivitätstoleranz± 20%
Bauart der InduktivitätGeschirmt
KernmaterialFerrit
Produktlänge2mm
Produktbreite1.25mm
Produkthöhe0.85mm
SVHCNo SVHC (21-Jan-2025)
Technische Spezifikationen
Induktivität
1µH
Eigenresonanzfrequenz
-
Bauform/Gehäuse der Induktivität
0805 [Metrisch 2012]
Produktpalette
MLZ Series
Bauart der Induktivität
Geschirmt
Produktlänge
2mm
Produkthöhe
0.85mm
DC-Widerstand, max.
0.13ohm
DC-Nennstrom
900mA
Bauform - Induktivität
0805 [Metrisch 2012]
Induktivitätstoleranz
± 20%
Kernmaterial
Ferrit
Produktbreite
1.25mm
SVHC
No SVHC (21-Jan-2025)
Technische Dokumente (1)
Gesetzgebung und Umweltschutz
Herkunftsland:
Land, in dem der letzte Fertigungsprozeß ausgeführt wurde.Herkunftsland:Japan
Land, in dem der letzte Fertigungsprozeß ausgeführt wurde.
Land, in dem der letzte Fertigungsprozeß ausgeführt wurde.Herkunftsland:Japan
Land, in dem der letzte Fertigungsprozeß ausgeführt wurde.
Tarif-Nr.:85045000
US ECCN:EAR99
EU ECCN:NLR
RoHS-konform:Ja
RoHS
RoHS-Phthalate-konform:Ja
RoHS
SVHC:No SVHC (21-Jan-2025)
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Produkt-Konformitätszertifikat
Gewicht (kg):.002
Produktnachverfolgung