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5250
IC-Prüfklemmen, SOJ, SOIC, 8 Kontakt(e), 1.27 mm, Vergoldete Kontakte
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Produktspezifikationen
HerstellerPOMONA
Herstellerteilenummer5250
Bestellnummer2406243
Technisches Datenblatt
IC-BauformenSOJ, SOIC
Anzahl der Kontakte8Kontakt(e)
Rastermaß1.27mm
KontaktüberzugVergoldete Kontakte
Produktpalette-
SVHCNo SVHC (16-Jan-2020)
Produktbeschreibung
5250 ist ein 8-poliger Testclip zum schaltungsinternen Testen von kompakten integrierten Schaltungen. Der SOIC-Testclip gewährleistet eine positive Verbindung zu allen Drähten des Chips und ermöglicht einen freihändigen Testvorgang.
- Die oberen Kontakte sind 0.025"-Vierkantpins mit einem Rastermaß von 2.54mm, perfekt für Wire-Wrap oder Überbrückungsdrähte
- Vergoldete untere Kontakte für zuverlässige, rauschfreie Verbindungen
- Trennvorrichtungen zwischen den Kontakten ermöglichen Verbindungen auf stromführenden Boards ohne versehentliches Kurzschließen
Anwendungen
Messtechnik
Technische Spezifikationen
IC-Bauformen
SOJ, SOIC
Rastermaß
1.27mm
Produktpalette
-
Anzahl der Kontakte
8Kontakt(e)
Kontaktüberzug
Vergoldete Kontakte
SVHC
No SVHC (16-Jan-2020)
Technische Dokumente (1)
Zugehörige Produkte
3 Produkte gefunden
Gesetzgebung und Umweltschutz
Herkunftsland:
Land, in dem der letzte Fertigungsprozeß ausgeführt wurde.Herkunftsland:United States
Land, in dem der letzte Fertigungsprozeß ausgeführt wurde.
Land, in dem der letzte Fertigungsprozeß ausgeführt wurde.Herkunftsland:United States
Land, in dem der letzte Fertigungsprozeß ausgeführt wurde.
Tarif-Nr.:85366990
US ECCN:EAR99
EU ECCN:NLR
RoHS-konform:Ja
RoHS
RoHS-Phthalate-konform:Keine Angabe
SVHC:No SVHC (16-Jan-2020)
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Produkt-Konformitätszertifikat
Gewicht (kg):.014515